1、基質(zhì)金屬磁特性

磁法厚度受基體金屬磁性變化(實(shí)際上,低碳鋼磁可以被認為是一個(gè)細微的變化,為了避免影響熱處理、冷加工的因素,應使用金屬試樣基體具有相同性質(zhì)的標準的涂層厚度量測儀校準;

也可以用于涂層試件校準。

2、基本金屬的厚度

每一種儀器有一個(gè)臨界厚度的金屬。大于厚度量測不受厚度的金屬。

3、金屬電氣性能

對…有影響的導電性基體金屬和金屬的電導率有關(guān),其材料組成和熱處理。使用金屬試樣基體具有相同性質(zhì)的標準儀器校準。

4、邊緣效應,

涂層測厚儀靈敏度來(lái)突然改變的標本的表層形狀。所以靠近試樣在邊緣或角落措施是不可靠的。

5、曲率

標本的曲率量測。這種影響是總是隨著(zhù)曲率半徑減小顯著(zhù)增加。結果,彎曲試樣表層的量測是不可靠的。

6、變形的試樣

量測頭可以使軟涂層試樣變形,因此可靠的量測數據在標本。

7、表層粗糙度

基質(zhì)金屬和表層粗糙度量測的涂層。粗糙度增加,效果增加。粗糙表層會(huì )引起系統誤差和隨機誤差,每次量測,應該增加數量的量測在不同的位置,克服隨機誤差。

如果矩陣金屬粗糙,還必須相似矩陣沒(méi)有涂層粗糙的金屬樣品需要幾個(gè)零位校準的涂層測厚儀;或者沒(méi)有腐蝕到金屬基體溶液去除蓋,校對零再次。

8、磁場(chǎng)

在各種各樣的強磁場(chǎng)產(chǎn)生的電氣設備,會(huì )嚴重干擾磁法的厚度。

9、膠粘材料

該儀器到妨礙測頭與密切接觸表層的涂層附著(zhù)力的材料,因此,必須轉移到材料,確保儀器量測頭和被直接接觸表層的測試。

10、量測頭的壓力

壓力強加的探針在樣品尺寸會(huì )影響量測的讀數,因此,保持壓力恒定。

11、量測頭取向

有一個(gè)影響量測探頭布置方式。在量測中,應保持垂直探針與樣品表層。